Николас Фанг (Nicholas Fang), Сян Чжан (Xiang Zhang) и их коллеги из университета Калифорнии в Беркли (University of California, Berkeley – http://www.berkeley.edu/) разработали суперлинзу, позволяющую получить разрешение у оптического микроскопа в 60 нанометров.
Достигнутый показатель в нескольк
раз выше прежнего рекорда разрешения оптических микроскопов (примерно 400 нанометров) и любопытен тем, что составляет одну шестую от длины использованной волны (а это был ультрафиолетовый диапазон).
В качестве суперлинзы выступала тончайшая плЈнка серебра. Приставка “супер” в данном случае относится не к высокому разрешению самому по себе, а как раз к тому факту, что новая система позволила преодолеть так называемый дифракционный барьер и получить информацию об объекте с разрешением намного более высоким, чем длина несущей эту самую информацию волны света.
Этот необычный эффект получен при задействовании поверхностных волн электронной плотности на серебряной плЈнке – так называемых плазмонов.
Подробности вы можете найти на этой (http://www.berkeley.edu/news/media/releases/2005/04/21_superlens.shtml) странице, а также в этом pdf-документе (http://www.sciencemag.org/cgi/data/308/5721/534/DC1/1).
Авторы работы отмечают, пишет Membrana.ru, что хотя существуют системы с лучшим разрешением (считанные нанометры у электронных и атомных силовых микроскопов), они требуют минуты для захвата изображения, в то время как оптические микроскопы позволяют сделать снимок с выдержкой в доли секунды.
Фактор времени может оказаться важным для рассмотрения быстродействующих процессов, к примеру, в живой клетке. Также новая техника откроет дорогу к лучшей оптоволоконной оптике и микросхемам с меньшим размером элементов.